@fluketw
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包含了48個測試通道可執行ICDFT(In-Circuit Digital Functional Test)，及3測試通道ICAFT(In-Circuit Analog Functional Test)針對所有IC元件，例如：74系列、4000系列CMOS、記憶體、EPROM、PAL及LSI元件，與類比元件例如：電晶體、SCR、MOSFET、線性元件....等，只要輸入IC編號，即可完全作數位及類比元件動態的功能測試，以符合全方位之電路板維修需求。
ICDFT(In-Circuit Digital Functional Test)：
能測所有TTL、CMOS元件(＋5V邏輯)及3.3V邏輯元件、ECL元件(0及-2V)、EIA標準通訊元件(12V邏輯)…等。
驅動速度：1.9KHz~8MHz(含以上)並可自動調整測試速率。
強大的元件資料庫提供操作者至少達23500顆以上的元件資料至少需包含TTL、CMOS、12VCMOS、LSI、EIA、74CMOS、OPTO、ANALOG、MIXED、REGULATOR、ECL、PECL、TINT等各式元件。
QT-8200的測試驅動速度為8MHz，QT-200的驅動速度為500KHz
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電話：(02)2279-7858
數位元件動態功能測試ICDFT(In-Circuit Digital Functional Test)：
數位通道：可自行編寫程式，從各種介面作測試。
每通道至少需具有8K × 2 RAM之容量以符合基本的測試深度及速度。
具開路、短路、浮接腳位自動判別功能，以偵測電路板元件不正常接腳情形增加測試的成功率。
針對ROM及PAL等元件則至少需有LEARN及COMPARE功能並具資料自動比對正確與否之功能，且可將讀出的資料存成資料檔。
驅動速度：1.9KHz~8MHz(含以上)並可自動調整測試速率。
類比元件動態功能測試ICAFT(In-Circuit Analog Functional Test)：
基本3通道可依使用者需求至少需能擴充至6通道或以上，並可在ICDFT之96通道中任意定義此3通道，以符合操作便利性，並具12 bit解析度。
驅動信號模式：可由使用者自行定義或使用標準波形，如正弦波、方波、三角波等以符合不同類比元件之功能測試需求。
驅動電源：每一通道至少需具±250mA，±13V(含)以上之驅動能力。
測試頻率至少可達8MHz，最小需可達0.25Hz(含)更小，並可調整(自動或手動)測試速率。
此三通道至少需能針對OP-AMP、ADC、DAC、SCR、電晶體等類比元件作動的IN-CIRCUIT、FUNCTIONAL TEST實際提供工作電源及工作信號，以求得實際的輸出放大信號並具相關參數測量功能、諸如Vce、Ic、Ib、Hfe等參數。
最大輸入/輸出電壓±13V(含)以上。
