@fluketw
V200為一經濟實惠的小型ATE系統；設計用來滿足PCB測試的需求與維修的需求，而不須擔心不斷改變的PCB技術以及在測試這些新技術時所要面臨的挑戰。 V200可提供完整的PCB測試與診斷功能，適用於各種的PCB，包括最新的、高密度、具有多針腳數(high pin count)PQFP、FBGA VLSI晶片的複合PCBs。
此為一結合-混合訊號測試系統(Combinational-Mixed Signal Test System)，為處理最新一代的晶片，另具邊界掃瞄測試(Boundary Scan Test)的功能。V200具有數位與類比的卡片邊緣功能性測試(Card Edge Functional Test)，以及針對每個裝置的電路內功能性試驗(In-Circuit Functional Test)，包括LSI/VLSI記憶體與微處理器。其亦包含了一個使用者可自行定義波形模式的Advanced QSM VI。
V200可做為一組合式測試器，經由簡單的夾頭與探針、或經由卡片邊緣，即具有類比、類位及混合式訊號測試的能力；或利用一可測試多達96個測試針腳的一特殊測試夾具，而成為一群組測試器。此外，其亦可選配邊界掃瞄測試的功能進行虛擬測試；在此情況下，虛擬測試針腳的數量是沒有任何限制的。其基本的時間單位為100ns，因此可產生一個10MHz資料量的測試模式。時間單位是可設定的，從100ns到200s，共2000個間距(100ns,200ns,300ns…200us)，故可準確地為模式計時。在每個數位針腳電子元件後方有 8K x 4 RAM 、而在每類比通道後方有 8K x 24 RAM 。其先進的排序器(sequencer)提供了外部事件同步或handshake的能力，而這對複合式微處理器的測試而言是很重要的。
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TD2互動式工作站---(最佳之電路內功能性試驗)
用來測試電路內或電路外每個獨立IC的性能
針腳狀態檢查&內建DRC(Design Rule Check，設計規則檢查)
IEEE標準VHDL語言，在資料庫中有關於晶片功能的行為敍述
PythonTD Test語言，以進行類比/混合訊號裝置之激發與輸出評估
自動補償可延伸至有數位裝置(不限於SSI/MSI)，而因此LSI/VLSI晶片可在其本身的電路組態內測試，而不需要從一個已知良好的板子上來進行了解
具有20K+裝置之資料庫(library)、使用者設計之資料庫測試程序，以及詳細之裝置測試報告
用於裝置資料庫、選配之VHDL已建在QDDL(Qmax Device Description Language)與WEST(Waveform Event Specification and Test)中
TD2基本TPS開發環境(選購)---最佳之電路板邊緣功能性測試
使用者可利用PythonTD Test語言，開發裝置之測試程式，以產生測試向量與數位、混合、類比訊號裝置之預期輸出波形
詳盡之裝置/PCB初始化程序，支援條件式迴圈(conditional loop)與外部事件同步
可定義預期輸出，當沒有功能性描述時，使用者可控制mask/tolerance，以進行Learn and Compare(學習與比較)
所開發之測試程式可用在一個裝置/群組上，或是一個完整的PCB上
若為群組或整個板子，使用者需要輸入電路的netlist、為測試器通道指定輸入/輸出針腳，以自動產生內部節點的導引探針回溯
為具有條件式分支之多個測試程式進行排序
TD2進階TPS開發環境(選購)
包含所有TD2基本TPS開發環境之功能
使用者可以行為(behavioral)或結構的方式，或甚至可使用裝置賣方所提供的RTL(Register Transition Logic)檔，在VHDL中敍述裝置的功能，以自動產生預期的輸出反應
Mentor Graphic's ModelSim PE version Digital VHDL Simulator：利用先進之活線模擬來預測預期的輸出，以增加無法完成初始化的板子之故障 涵蓋範圍
自動導引探針回溯：將故障隔離至節點的階層
故障模擬軟體：使電路板測試程式生效，並測試其完整性
故障指南軟體：以進行Nil或將內部節點探測最小化
支援外部儀器：經由IEEE-488 GPIB/VXI/PXI及訊號路徑矩陣(signal routing matrix)
基本邊界掃瞄測試軟體(選購)
邊界掃瞄使用簡單的5線接頭(J-TAG)與被測的PCB相接，故不需與測試針腳接觸(虛擬測試針腳測試概念)
使用邊界掃瞄測試軟體與賣方提供的BSD檔案，即可進行如ID Code Read、User Code Read、BS Length、Chain Test、Integrity Test與Open/Short等測試
若沒有netlist時，使用學習與比較(learn and compare)模式進行open/short測試
進階邊界掃瞄測試軟體(選購)
互動模式：以設定不同針腳的邏輯程度並讀回
BS裝置與非邊界掃瞄裝置(Glue Logic Chips)之功能性試驗
具有電路板邊緣接頭，可與 V200 測試通道相接，且具有JTAG PCB Track，可進行完整性與靜態功能測試
